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防水数显卡尺的使用注意事项(二)
四、校对零位
仔细清净量面(用洁净纸片夹在量面间抽拉几次),使两量面接触,量面间压力约3—5N,按“清零键”以设定零位,然后方可进行测量。为减小测量误差,校对零位时所用推力应尽可能接近测量时所用推力。
五、测量方法
一般采用绝对测量方法,其零点设置如上所述。
为提高测量准确度,可采用微差测量法:将与被测量工件尺寸接近的量块(或其它具有标准尺寸的样件),以适当的压力(3—5N)夹在两量面之间,按清零键设定相对零点,在测工件时读取与标准尺寸的差值(此差值一般微小,故通常称其为微差测量)。此差值加前述标准尺寸,即为被测工件实际尺寸或称作绝对尺寸。
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2)工作环境:温度5?40℃,相对湿度在80%以下,防止含电解质的液体沾湿保护膜表面。
3)不准在数显量具上施加电压,不宜用电笔刻字,以免损坏电路。
4)测量方法一般采用绝对测量方法,其零点设置如上所述。
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数显卡尺的情况
2、精度要求:数显卡尺按国际标准(ISO/DIS13385—1996)测量的极限误差如下:测量范围名(mm):0-100极限误差(mm):±0.02(±0.010)*;测量范围(mm):>100-300极限误差(mm):±0.03(±0.015)**注:括号内是安一 量具公司高精度数显卡尺的极限误差.。